SPM

Das Rasterkraftmikroskop, seltener Atomkraftmikroskop, ist ein spezielles Rastersondenmikroskop. Es ist ein wichtiges Werkzeug in der Oberflächenchemie und dient zur mechanischen Abtastung von Oberflächen und der Messung atomarer Kräfte auf der Nanometerskala.
Das Mikroskop wurde 1986 von Gerd Binnig, Calvin Quate und Christoph Gerber entwickelt.

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